德國EPK MiniTest7400金屬基材涂層測(cè)厚儀

簡單介紹

MiniTest 7400高精度涂層測(cè)厚儀所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量 多種圖形顯示選項(xiàng) 菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理 用于簡易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件 MiniTest 7400高精度涂層測(cè)厚儀測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭 SIDSP®技術(shù)提升準(zhǔn)確度和重現(xiàn)性

1. 多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn)

2.零點(diǎn)校準(zhǔn)，并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近

3.使用精密支架，不適用HD探頭

4.如果選擇“快速”，測(cè)量速度主要取決于操作

5.根據(jù) DIN 55350第13部分

6.多點(diǎn)校準(zhǔn)值優(yōu)于獲得的數(shù)據(jù).

7.包括涂層

技術(shù)參數(shù)

MiniTest 7400 可選配件

MiniTest 7400 探頭

可選探頭

種類繁多的可換探頭，滿足各種應(yīng)用要求。

可以通過推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。

 兩用型FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體材料。

與表面接觸后，儀器自動(dòng)切換到合適的測(cè)量原理。 因此，應(yīng)用錯(cuò)誤會(huì)被淘汰，加快了測(cè)量進(jìn)程。

探頭技術(shù)參數(shù)

1.多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn)

2.零點(diǎn)校準(zhǔn)，并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近

3.使用精密支架，不適用HD探頭

4.如果選擇“快速”，測(cè)量速度主要取決于操作

5.根據(jù) DIN 55350第13部分

6.多點(diǎn)校準(zhǔn)值優(yōu)于獲得的數(shù)據(jù).

7.包括涂層

探頭設(shè)計(jì)選擇

不同的線纜插口類型更加靈活，來適應(yīng)測(cè)試要求。每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計(jì)，后者可以測(cè)量難以進(jìn)入的類似管和中空零件。